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您當前的位置: 首頁(yè)-產(chǎn)品展示-Ocean FX 網(wǎng)絡(luò )高速光譜儀

Ocean FX 網(wǎng)絡(luò )高速光譜儀

2019/08/07

  靈敏度更高

  采集速度更快

  通訊方式更多

  產(chǎn)品介紹

  全新的FX系列,使用CMOS探測器有效提高靈敏度。每秒4500張的圖譜獲得速度,以及強化的模塊通訊集成了以太網(wǎng)以及WiFi,全新的光譜儀在UV-VIS波段響應更加靈敏,更快的分析速度在食品的分類(lèi)揀選及流程、生物科學(xué)等行業(yè)表現更加優(yōu)秀。

  

  產(chǎn)品特征及優(yōu)勢

  特征 優(yōu)勢 應用

  CMOS

  檢測器 光譜覆蓋200-1100nm 而且在UV段靈敏度更高 ? 生物醫學(xué)(比如:DNA檢測)

  ? UV段氣體檢測

  高速度采集 更短時(shí)間、更快速度獲取光譜 ? 食品篩選與過(guò)程監控

  ? 動(dòng)力學(xué)檢測

  ? 激光器檢測(脈沖模式)

  ? 高強度等離子體檢測

  ? 瞬時(shí)采集

  ? 產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中的監測和質(zhì)量控制

  積分時(shí)間最小10μs

  緩存和時(shí)間戳 板載50,000張光譜緩存

  確保整個(gè)動(dòng)力學(xué)測試過(guò)程不會(huì )丟失數據 ? 細胞中酶反應化學(xué)動(dòng)力學(xué)

  ? 藥物合成中的反應動(dòng)力學(xué)

  多通訊模式 以太網(wǎng),Wi-Fi,Type-C多通訊模式 ? 遠程監控

  ? 手持化設備

  ? 過(guò)程應用

  產(chǎn)品參數

  光譜范圍 200-1100nm(可在該范圍內進(jìn)行配置)

  可選配置 UV-Vis (200-850 nm) w/25 μm slit

  Vis-NIR (350-1000 nm) w/25 μm slit

  寬光譜范圍(200-1025 nm) w/25 μm slit

  光學(xué)分辨率 0.8nm(FWHM),基于配置:600刻線(xiàn)光柵以及5μm狹縫

  SNR(單次掃描) ~300:1

  動(dòng)態(tài)范圍(單次掃描) ~6400:1

  積分時(shí)間 10 μs-10 s

  掃描速度(最大) 4500 scans/s*

  掃描速度取決于很多因素,包括計算機硬件的性能以及操作系統的區別。

  熱穩定性 0.11 pixels/℃

  狹縫 5,10,50,100 或 200μm狹縫

  SMA 905 或 FC

  更多應用方案

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  LIBS 光譜:

  LIBS系統中,激光器用來(lái)激發(fā)樣品產(chǎn)生等離子體,光譜儀獲取的原子發(fā)射譜線(xiàn)可以判定樣品的物質(zhì)組成成分。由于等離子體的生命周期很短,激光激發(fā)樣品的時(shí)間也很短,所以需要使用更短積分時(shí)間的光譜儀來(lái)收集等離子體的主要光譜信息。

  快速測量:

  快速獲取的光譜可以觀(guān)察火花、爆炸物、炮火等的特征信息,包括組成和溫度信息等。通過(guò)同步觸發(fā),可以監測同一反應或者同一物質(zhì)不同時(shí)間的不同信息。.

  生產(chǎn)線(xiàn)在線(xiàn)監測:

  對在線(xiàn)生產(chǎn)中的產(chǎn)品或者整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行監控,由于整個(gè)過(guò)程非常迅速,另外可檢測點(diǎn)又是特定的,所以檢測儀器就需要極快的光譜的響應時(shí)間。生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行同步測量非常有利于對整個(gè)過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)監控。

  LED 分選:

  LEDs在生產(chǎn)過(guò)程中通過(guò)CWL,FWHM,或者CIE顏色值差異進(jìn)行分選,整個(gè)分選過(guò)程速度非???,而顏色作為白光LED分選的主要判斷指標,另外還因為白光LED的ΔE值也相對比較小,所以就需要檢測的設備有更高的靈敏度和更短的時(shí)間獲得更穩定的光譜數據。

  激光:

  盡管使用光譜儀對激光進(jìn)行檢測很大可能出現飽和現象,但是我們還是要檢測激光指標CWL和FWHM。如果需要檢測FWHM,必須要確保光譜儀的分辨率要低于激光的FWHM。即使光譜儀的分辨率寬于待檢測的激光線(xiàn)寬,只要檢測器不飽和,CWL的值還是準確的。

  光發(fā)射光譜 (OES):

  發(fā)射光譜測試一般會(huì )用在科研、環(huán)境監測等領(lǐng)域,被檢測的樣品一般被氣化并表現為原子形式,這些離子化的原子產(chǎn)生的發(fā)射譜線(xiàn)可以用來(lái)表征物質(zhì)成分。我們的OEM客戶(hù)使用該方法對水中的痕量金屬進(jìn)行檢測,同時(shí)也有其他客戶(hù)使用該方法對工業(yè)用油進(jìn)行檢測。

  等離子體監控:

  等離子體的發(fā)射譜線(xiàn)可以用來(lái)評估等離子體的狀態(tài)或者消亡過(guò)程。

  激光焊接/沉積:

  可以通過(guò)等離子體的發(fā)射譜線(xiàn)對激光焊接/沉積過(guò)程中的溫度及其他參數,從而監控整個(gè)焊接過(guò)程。


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