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3710D型CID相機(jī)
2019/08/15
詳細(xì)內(nèi)容
3710D 單色CID相機(jī)在小型遠(yuǎn)程相機(jī)頭內(nèi)配置了 RS-170 視頻格式、隔行掃描、776(H) x 512(V) 像素 CID 陣列。小型遠(yuǎn)程相機(jī)頭通過(guò)可定制長(zhǎng)度的撓性電纜連接于相機(jī)控制單元。
主要特點(diǎn)：
具有卓越的抗高光溢出性能，并具有定格和物體就位功能，可在中心幀捕捉并讀取非同步高速事件。靈活多樣的相機(jī)頭安裝功能可簡(jiǎn)化安裝，節(jié)省空間，標(biāo)準(zhǔn)“C”接口鏡頭適配器可支持后焦點(diǎn)調(diào)整。
· 電荷注入器件 (CID) 圖像傳感器可耐受高光反射過(guò)載。
· 光過(guò)載被限制在每個(gè)像素或緊鄰的像素內(nèi)，因此相鄰行或列不共享電荷
· 光譜響應(yīng)為 200 nm 以下至 1100 nm，涂層可用于 X 射線、真空紫外和紅外線
· CID 圖像傳感器具有連續(xù)一致的像素結(jié)構(gòu)，整個(gè)傳感器工作時(shí)無(wú)不透明區(qū)，便于亞像素邊緣檢測(cè)的像素間插值
· 幀重置、禁止注入和丟棄功能可結(jié)合使用或單獨(dú)使用，以在中心幀捕獲并讀取非同步高速事件
· 相機(jī)可與事件同步以精確定位視野中的某個(gè)部分，而使用閃光燈則可獲取無(wú)模糊圖像；特點(diǎn)是 2:1 隔行掃描 776(H) x 512(V) CID 陣列和 12.0×13.7 微米 (4:3) 長(zhǎng)寬比像素
· 電荷注入器件 (CID) 圖像傳感器技術(shù)
· 非同步全幀捕捉
· 隔行 RS-170 視頻格式
· 12 x 13.7 微米連續(xù)像素
· 精確邊緣檢測(cè)
· 紫外至近紅外響應(yīng)可選擇 2X、4X 視頻增益提升
主要技術(shù)參數(shù)：
| 接頭類型 | (J1) 25 管腳 D（公頭）、(J2) 25 管腳 D（母頭）、(J3) 26 管腳 D（母頭）、（BNC）標(biāo)準(zhǔn) |
| 工作濕度范圍 | 0 至 95%，非冷凝環(huán)境 |
| 圖像傳感器 | 2/3 英寸 |
| （光學(xué)格式） | |
| 線纜長(zhǎng)度 | 2 m，定制長(zhǎng)度可選 |
| 輸入 | (J1) + 15 VDC、H 驅(qū)動(dòng)/復(fù)合同步、(J2) V 驅(qū)動(dòng)、注入抑制、幀復(fù)位 |
| 復(fù)合視頻 | 1V p-p，終端匹配 75 歐姆電阻 |
| 有效像素 | 755(H) x 484(V)（RS-170模式） |
| 像素尺寸 | 12 x 13.7 μm |
| 分辨率 | > 500 TVL（水平） |
| 靈敏度 | 全輸出 0.3 fc 熒光屏、0 dB 增益、照明 (T=2850K) |
| 信噪比 | 52 dB |
| 總像素 | 776(H) x 512(V) |
| 電平 | 黑電平：+50 mV（自動(dòng)黑鉗），白電平：+700 mV，同步電平：-300 mV |
| 滿阱容量 | > 250000 電子 |
| 有效面積 | 11 mm（對(duì)角線） |
| 輸出 | (J1) 視頻、幀末端、線末端、H 和 V 驅(qū)動(dòng)復(fù)合同步、消隱；(J2) 視頻、ALC、14.318 MHz ER 時(shí)鐘；(BNC) 復(fù)合視頻 |
| 工作溫度 | 0° - 50°C |
| 電子學(xué)配置 | RS-170、30FPS、隔行 |
| （掃描格式） | |
| 環(huán)境條件 | 振動(dòng)：50 G（周期為 10 ms 的 1/2 正弦波） |
| 失真 | 0 |
| 安裝 選件 | 鏡頭接口：標(biāo)準(zhǔn) C 接口（1.0 英寸 - 32 圈螺紋）；攝像機(jī)接口：1/4 英寸 - 20 圈螺紋 |
| 電壓 | 14.5 至 15.5 VDC |
| 輸入功率 | 8 W |
| 輸入電流 | 550 mA |
| 描述 | 電荷注入器件相機(jī) (RS-170) |
| 增益 | x2、x4（內(nèi)部開(kāi)關(guān)可選） |
| 圖像傳感器 | CID |
| 物品描述 | 3710D CID相機(jī) (RS-170) |
| 相機(jī)控制單元重量 | 0.93 kg |
| 相機(jī)頭重量 | 0.27 kg |
光譜響應(yīng)：
應(yīng)用：
· 遠(yuǎn)程X射線測(cè)量、度量
· 檢查和測(cè)量，涂層可用于 X 射線、深紫外和紅外線
· 邊緣檢測(cè)
· 激光束輪廓分析跟蹤
· X射線和真空紫外測(cè)量
· 機(jī)器視覺(jué)
· 3-D 分析