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HI-Q射頻測試測量系統(tǒng)
2019/08/15
詳細內(nèi)容
美國OEwaves公司的Hi-Q射頻測試測量系統(tǒng)利用微波光子學(xué)技術(shù)自動測量超低相位微波信號源。Hi-Q射頻測試測量系統(tǒng)測試速度快、完全自動化，且在指定的頻段的任何工作頻率產(chǎn)生一個射頻或微波信號源的相位噪聲譜密度。
該射頻測試測量系統(tǒng)在寬頻段測量上有其獨特性，無需額外的低噪聲參考源或下變頻器，這與常規(guī)的零差法所要求的完全不同。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高。
通過與美國國家標準與技術(shù)研究院測量系統(tǒng)比較，下圖給出了經(jīng)過校準的該測試測量系統(tǒng)的互相關(guān)性能。
特征：
? 超低相位/頻率噪聲測量
? 快速實時測量
? 全自動化
? 互相關(guān)零差法能力
? 不需要低噪聲噪聲參考信號源
? 用戶友好界面
? 簡單的筆記本電腦操作
? 6Ux 19英寸機架系統(tǒng)
? 可定制的配置，
? 升級和選項
| HI-Q射頻測試測量系統(tǒng) | |
| 型號 | OE8000 |
| RMS 時間抖動–單頻道 | 5 fs (100 Hz – 10 MHz) |
| 輸入功率范圍 | +5 to +15 dBm |
| 顯示功能 | 波譜/ 譜密度/ 標記/ 雜波含量 |
| 數(shù)據(jù)存儲與I/O | HDD / USB端口/ 100以太網(wǎng)端口 |
| 帶寬分辨率 | 0.1 Hz – 200 kHz |
| 電源電壓 | 110 / 120 Vac 或 220 / 240 Vac |
| 射頻測試測量系統(tǒng)尺寸 | 3U x 19英寸機架式 (高度依賴于性能和特征選項) |