產(chǎn)品展示
0431-89561560
長春市高新區(qū)錦河街155號，中國·吉林東北亞文化創(chuàng)意科技園實驗樓3層303
產(chǎn)品展示Product
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高精度光束分析儀 (Beam Analyzer)
2019/08/15
詳細內(nèi)容
主要特征
● 12 bit A/D
● 同時高分辨率采樣所有模式
● 實時檢測光束質(zhì)量、尺寸和高斯擬合
● 實時顯示光束2D/3D圖像
● 測量光束的中心、橢圓度和功率
● Excel數(shù)據(jù)存儲，RS232或TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸
● 可保存快照圖像
● 自動驗證分析報告
● USB接口
Si UV-Si IR IRE | ||
光譜范圍 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
刀片數(shù) | 3（BA3頭） 7（BA7頭） | |
光束尺寸范圍 | BA7-Si和BA7-UV(橢圓形) BA7-Si和BA7-UV（圓形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA7-IR5 | 15μm-10mm 15μm-9mm 3μm-3mm 15μm-3mm 3μm-5mm 15μm-5mm |
光束寬度分辨率 | >100μm <100μm | |
光束寬度精確度 | ±2% | |
功率范圍 | Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭 | 10μW-1W(有衰減片) 10μW-5mW(無衰減片) |
功率精確度 | Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭 | ±5% ±10% |
功率分辨率 | 0.1μW | |
位置精確度 | ±15μm | |
位置分辨率 | 1μm | |
飽和度 | Si和UV-Si探頭 | 0.1W/cm2(無衰減片)，20W/cm2(NG9) |
測量速率 | 5Hz | |
溫度 | 0℃-35℃ | |
PC接口 | USB2.0 |