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Beam'R2狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

2022/10/12

產(chǎn)品型號:Beam'R2

產(chǎn)品ID:S-BR2-Si

品牌名稱(chēng):美國Dataray

 

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀系統提供高分辨率,但是要求光束小于1μm且價(jià)格要高于相機型光束分析儀。盡管不能給出光束圖像,但是在很多情況下XY或XYZ就可以滿(mǎn)足應用要求。

 

產(chǎn)品特點(diǎn):

 

· 190至1150 nm,Si探測器

· 650至1800 nm,InGaAs探測器

· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(擴展)探測器

· 端口供電,USB2.0,靈活的3米電纜,沒(méi)有電源磚

· 0.1μm采樣和分辨率

· 線(xiàn)性和對數X-Y輪廓

· 輪廓縮放和狹縫寬度補償

· 經(jīng)濟又準確

· M2選項 – 光束傳播分析、發(fā)散、聚焦

 

產(chǎn)品選擇:

 


Beam’R2

BeamMap2

主要特征

集成X和Y輪廓

實(shí)時(shí) XYZθΦ 測量和焦點(diǎn)查找

實(shí)時(shí)指向、發(fā)散和M2 測量

接口

USB 2.0 Port-powered

CW or Pulsed?

CW,脈沖最小 PRR(Si 探測器)≈ [500/(激光直徑μm] kHz

波長(cháng)

Si:190-1150 nm

InGaAs:650-1800 nm

Si+InGaAs:190-1800nm

Si+InGaAs,extended:190-2500nm

X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ

N/A

是,獨特的專(zhuān)利能力

最佳分辨率

0.1 μm

最小光束

2 μm (Knife Edge mode)

更新率

5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)

M2 測量

Yes - with M2DU-BR accessory

Yes - real-time

定位焦點(diǎn)

Yes - with M2DU-BR accessory

Yes - real-time

指向/發(fā)散

Yes - with M2DU-BR accessory

Yes - real-time

開(kāi)關(guān)增益(選項 dB)

32 dB


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